Щодо питання про прогнозування залишкового ресурсу виробів електронної техніки.
DOI:
https://doi.org/10.34121/1028-9763-2020-1-149-156Ключові слова:
storage mode, test mode, residual life, theoretical reliability model, режим зберігання, режим випробувань, залишковий ресурс, теоретична модель надійностіАнотація
Робота присвячена вирішенню важливої проблеми продовження періоду експлуатації застарілого обладнання систем критичного призначення, планові заходи по заміні якого економічно недоцільні в даний час. При цьому необхідною умовою продовження періоду експлуатації є збереження встановлених ризиків виникнення критичних ситуацій, які можуть стати причиною аварій. Для невідновлюваних виробів прогнозується залишковий ресурс, а для відновлюваних – залишковий термін служби. Якщо в питаннях прогнозування стану механічних виробів багато проблемних питань на сьогоднішній день вирішені, то в напрямі електронних і електротехнічних виробів рішення даної проблеми вимагає подальших досліджень. Непереборні труднощі пов'язані з використанням теоретичної моделі надійності експоненціального розподілу, яка не передбачає протікання у виробах процесів деградації і старіння, що залежать від тривалості експлуатації. Як альтернатива для прогнозування залишкового ресурсу виробів електронної техніки в роботі пропонується вірогіднісно-фізична модель надійності – DN-розподіл, отримано спеціально для вирішення завдань по надійності для даного класу виробів. DN-розподіл є гнучкою двопараметричною функцією, яка найбільш точно описує будь-яку статистику відмов з різними коефіцієнтами варіації наробіток до відмови. Крім того, цей розподіл має функцію інтенсивності відмов, що змінюється в часі, яка відповідає більшості реальних об'єктів, схильних до деградації параметрів і старіння. На прикладі напівпровідникових транзисторів в роботі пропонуються методи прогнозування залишкового ресурсу виробів після тривалого зберігання без електричного навантаження і за результатами форсованих випробувань з підвищеним навантаженням.Посилання
1. ДСТУ 8647:2016. Надійність техніки. Оцінювання і прогнозування надійності за результатами випробувань и/або експлуатації в умовах малої кількості відмов. К.: Видавництво Держстандарту України, 2017. 23 с.
2. Справочник. Надѐжность электрорадиоизделий. М.: МО РФ, 2006. 641 с.
3. Бережной В.П., Дубицкий Л.Г. Выявление причин отказов РЭА / под ред. Л.Г. Дубицкого. М.: Радио и связь, 1983. 232 с.
4. Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. К.: Логос, 2002. 486 с.
5. Федухин А.В. Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения. Математичні машини і системи. 2004. № 4. С. 164–170.
6. Федухин А.В. Прогнозирование параметрической надежности полупроводниковых приборов с использованием диффузионного распределения наработки до отказа. Математические машины и системы. 1999. № 2. С. 117–122
7. Федухин А.В., Сеспедес Гарсия Н.В. К вопросу об оценке коэффициента вариации наработки до отказа по квантилям малого уровня. Надежность. 2018. Т. 18, № 4. С. 10–15.
101
43Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2020 Математичні машини і системи
Ця робота ліцензується відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International License.
